眾所周知，手持x射線熒光光譜儀是一種原子發射方法，被測樣品被X射線管通過產生的入射X射線激發。之后受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，這個射線我們也叫X熒光，這個射線具有特定的能量特性或波長特性。熒光光譜儀的探測系統就是測量這些的。
此外，x射線熒光光譜儀還可以使快速篩選分析。那么接下來就和創想小編一起來溫故一下手持x射線熒光光譜儀檢測的基本過程吧！
x射線熒光光譜儀可以在原子級發生的簡單三步過程中考慮：
傳入的 X 射線從材料原子內的原子核周圍的軌道之一中敲出電子。
在軌道中產生一個空穴，導致原子具有高能量、不穩定的構型。
為了恢復平衡，一個電子從更高能量的外軌道落入空穴。由于這是一個較低的能量位置，多余的能量以熒光 X 射線的形式發射。
排出電子和替代電子之間的能量差異是發生熒光過程的元素原子的特征——因此，發射的熒光 X 射線的能量與被分析的特定元素直接相關。正是這一關鍵特性使 XRF 成為如此快速的元素組成分析工具。
現如今XRF分析已經是一種可靠且成熟的技術了。它具有高精度和高準確度，它可以很容易地實現自動化，以便于在高通量工業環境中應用。
創想手持光譜合金分析儀在金屬冶煉中的應用